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HLDH-G-2觸摸屏高壓漏電起痕測(cè)試儀用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn),模擬在工頻(45Hz - 65Hz)下,用液體污染物和斜面試樣,通過耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級(jí)。 設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)GB6553-2014嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料評(píng)定耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)方法(IEC60587:2007,IDT)
漏電起痕試驗(yàn)儀又稱漏電痕化指數(shù)試驗(yàn)儀、漏電起痕指數(shù)試驗(yàn)機(jī),是IEC60112:2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480、GB4207等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。
絕緣材料電弱點(diǎn)測(cè)試儀主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試,測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定,無須將膜分切成小卷,免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果能真實(shí)反映薄膜的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
表面體積電阻率測(cè)試儀為121升級(jí)產(chǎn)品 改進(jìn)了之前儀器只能計(jì)算出電阻 需手動(dòng)換算電阻率 結(jié)合了用戶試驗(yàn)要求便于測(cè)量,特別是電阻的測(cè)量時(shí) 只需人為放入試樣無需人工換算結(jié)果自動(dòng)求取,試樣可進(jìn)行選擇及 固體、粉體、液體。三種即可自動(dòng)的換算出電阻率 產(chǎn)品采用64位真彩屏幕顯示,試樣選定??娠@示:材料 電阻 電流 電壓 電阻率 。
微機(jī)控制電壓擊穿試驗(yàn)儀滿足GB1408-2006 GB/T1695-2005 GB/T3333 GB12656 HG/T 3330及ASTM D149 標(biāo)準(zhǔn)要求.主要適用于固體絕緣材料如:塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試;